Ricerca · Baviera, Germania
Sala di microscopia elettronica in un istituto di ricerca
1.8 µT → 45 nT
01 · Sfida
Deriva dell'immagine su un nuovo TEM causata da una linea tranviaria a 60 m di distanza e dalle correnti degli impianti dell'edificio.
02 · Simulazione
Separazione delle sorgenti tramite misurazione sincronizzata a lungo termine e simulazione dell'involucro della sala e dei transitori residui in corrente continua.
03 · Soluzione
Un involucro in mu-metal per la sala con bobine di compensazione attiva per la componente variabile in corrente continua del tram.
04 · Esecuzione
Installato durante una fermata programmata dello strumento, seguito da collaudo di accettazione congiunto con il produttore.
05 · Risultato
Campo residuo inferiore a 45 nT picco-picco — entro le specifiche del produttore con margine.
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